KROHNE OPTISWITCH 5100C Transistor RU - Инструкция (Страница 32)

Двухканальная архитектура
SIL3 (Safety Integrity Level)
HFT = 1 (Hardware Fault Tolerance)
Здесь дается пример установки измерительной системы в
двухканальной архитектуре для применения с уровнем
SIL3. При двухканальной архитектуре следует учитывать
показатель общей причины отказов = 10 % (наихудший
случай).
Если устройства устанавливаются в иной
(многоканальной) архитектуре, то значения нужно
расчитывать на основе данных выше значений частоты
отказов специально для выбранного применения.
Переключатель режимов работы стоит на "А"
PFD
avg
T
Proof
= 1 год
T
Proof
= 5 лет
T
Proof
= 10 лет
< 0,012 x 10 -3
< 0,059 x 10 -3
< 0,120 x 10 -3
PFH [1/h] < 0,027 x 10 -7
Переключатель режимов работы стоит на "В"
PFD
avg
T
Proof
= 1 год
T
Proof
= 5 лет
T
Proof
= 10 лет
< 0,013 x 10 -3
< 0,066 x 10 -3
< 0,130 x 10 -3
PFH [1/h] < 0,030 x 10 -7
В пределах 10 лет зависимость PFD
avg
от времени работы
приближается к линейной. Данные выше значения
действительны для временного интервала T
Proof
, по
истечении которого должна проводиться периодическая
функциональная проверка.
Архитектура 1oo2D - Защита
от переполнения
Архитектура 1oo2D - Защита
от сухого хода
Временная зависимость
PFD
avg
Функциональная безопасность
32 OPTISWITCH 5100 C, 5150 C - с транзисторным выходом
30427
-RU
-060208