Инструкция по эксплуатации KROHNE OPTISWITCH 3300C Transistor RU
Страница 35
λ
du
40 FIT
dangerous undetected failure
SFF
> 94 %
Доля безопасных отказов
DC
S
0 %
Диагностическя степень покрытия DC
S
= λ
sd
/(λ
sd
+
λ
su
)
DC
D
77 %
Диагностическя степень покрытия DC
D
= λ
dd
/(λ
dd
+
λ
du
)
T
диагностики
Время диагностической проверки
100 сек.
MTBF = MTTF + MTTR
1,52x10
6
h
Макс. время использования измерительной систе-
мы для функции безопасности
прибл. 10 лет
Одноканальная архитектура
SIL2 (Safety Integrity Level)
HFT = 0 (Hardware Fault Tolerance)
Переключатель режимов работы стоит на "max"
PFD
avg
T
Proof
= 1 год
T
Proof
= 5 лет
T
Proof
= 10 лет
< 0,013 x 10
-2
< 0,065 x 10
-2
< 0,131 x 10
-2
PFH [1/h]
< 3 x 10
-8
/h
SIL2 (Safety Integrity Level)
HFT = 0 (Hardware Fault Tolerance)
Переключатель режимов работы стоит на "min"
PFD
avg
T
Proof
= 1 год
T
Proof
= 5 лет
T
Proof
= 10 лет
< 0,018 x 10
-2
< 0,088 x 10
-2
< 0,177 x 10
-2
PFH [1/h]
< 4 x 10
-8
/h
Двухканальная архитектура
Здесь дается пример установки измерительной системы в
двухканальной архитектуре для применения с уровнем
SIL3. При двухканальной архитектуре следует учитывать
показатель общей причины отказов = 10 % (наихудший
случай).
Общие сведения
Архитектура 1oo1D - Защита
от переполнения
Архитектура 1oo1D - Защита
от сухого хода
Функциональная безопасность
OPTISWITCH 3300 C - с транзисторным выходом
35
29962
-RU
-060222